參數(shù)資料
型號: HY62WT08081E
廠商: Hynix Semiconductor Inc.
英文描述: HY62WT08081E Series 32Kx8bit CMOS SRAM
中文描述: HY62WT08081E系列32Kx8bit CMOS SRAM的
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代理商: HY62WT08081E
HY62WT08081E Series
AC TEST CONDITIONS
T
A
= 0
°
C to 70
°
C (Normal) / -25
°
C to 85
°
C (Extended) / -40
°
C to 85
°
C (Industrial)
unless otherwise specified.
Parameter
Input Pulse Level
Vcc = 4.5~5.5V
Vcc = 2.7~3.6V
Input Rise and Fall Time
Input and Output Timing Reference Level
Output Load
tCLZ,tOLZ,tCHZ,tOHZ,tWHZ,tOW
Others
AC TEST LOADS
TTL
Rev 04 / May. 2001
6
Value
0.8V to 2.4V
0.4V to 2.2V
5ns
1.5V
CL = 5pF + 1TTL Load
CL = 100pF + 1TTL Load
CL* = 30pF + 1TTL Load
Note : Including jig and scope capacitance
CAPACITANCE
T
A
= 25
°
C, f = 1.0MHz
Symbol
Parameter
C
IN
Input Capacitance
C
I/O
Input /Output Capacitance
Note : These parameters are sampled and not 100% tested
CL(1)
Condition
V
IN
= 0V
V
I/O
= 0V
Max.
6
8
Unit
pF
pF
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PDF描述
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