參數(shù)資料
型號(hào)： HCF4023BM1
廠商： 意法半導(dǎo)體
英文描述： TRIPLE 3 INPUT NAND GATE
中文描述： 三重3輸入與非門
文件頁(yè)數(shù)： 5/12頁(yè)
文件大小： 287K
代理商： HCF4023BM1
TEST CIRCUITS
QuiescentDevice Current.
Noise Immunity.
Input Leakage Current.
DYNAMIC ELECTRICAL CHARACTERISTICS
(T
amb
= 25
°
C, C
L
= 50pF, R
L
= 200k
,
typical temperature coefficient for all V
DD
values is 0.3%/
°
C, all input rise and fall times = 20ns)
Value
Typ.
125
60
45
100
50
40
Symbol
Parameter
Test Conditions
V
DD
(V)
5
10
15
5
10
15
Min.
Max.
250
120
90
200
100
80
Unit
t
PLH
, t
PHL
Propagation Delay Time
ns
t
THL
, t
TLH
Transition Time
ns
HCC/HCF4011B/12B/23B
5/12
相關(guān)PDF資料
PDF描述
HCC4011B NAND GATES
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