參數(shù)資料
型號: HCC4012BC1
廠商: 意法半導(dǎo)體
英文描述: NAND GATES
中文描述: 與非門
文件頁數(shù): 5/12頁
文件大小: 287K
代理商: HCC4012BC1
TEST CIRCUITS
QuiescentDevice Current.
Noise Immunity.
Input Leakage Current.
DYNAMIC ELECTRICAL CHARACTERISTICS
(T
amb
= 25
°
C, C
L
= 50pF, R
L
= 200k
,
typical temperature coefficient for all V
DD
values is 0.3%/
°
C, all input rise and fall times = 20ns)
Value
Typ.
125
60
45
100
50
40
Symbol
Parameter
Test Conditions
V
DD
(V)
5
10
15
5
10
15
Min.
Max.
250
120
90
200
100
80
Unit
t
PLH
, t
PHL
Propagation Delay Time
ns
t
THL
, t
TLH
Transition Time
ns
HCC/HCF4011B/12B/23B
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相關(guān)PDF資料
PDF描述
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