Specifications GAL22V10 12 GAL22V10D-4 Output Load Conditions (see figure below) Test Condition R1
參數(shù)資料
型號(hào)： GAL22V10D-10LJ
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁數(shù)： 6/23頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC SPLD 5V 28 PIN PLCC
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 370
可編程類型： EE PLD
宏單元數(shù)： 10
輸入電壓： 4.75 V ~ 5.25 V
速度： 10ns
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 28-LCC（J 形引線）
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 28-PLCC（11.51x11.51）
包裝： 托盤
其它名稱： Q6795010KK
Specifications GAL22V10
12
GAL22V10D-4 Output Load Conditions (see figure below)
Test Condition
R1
CL
A50Ω
50pF
B
Z to Active High at 1.9V
50Ω
50pF
Z to Active Low at 1.0V
50Ω
50pF
C
Active High to Z at 1.9V
50Ω
50pF
Active Low to Z at 1.0V
50Ω
50pF
Input Pulse Levels
GND to 3.0V
Input Rise and
D-4/-5/-7
1.5ns 10% – 90%
Fall Times
D-10/-15/-20/-25
2.0ns 10% – 90%
Input Timing Reference Levels
1.5V
Output Timing Reference Levels
1.5V
Output Load
See Figure
3-state levels are measured 0.5V from steady-state active
level.
TEST POINT
C *
L
FROM OUTPUT (O/Q)
UNDER TEST
+5V
*C L INCLUDES TEST FIXTURE AND PROBE CAPACITANCE
R2
R1
Output Load Conditions (except D-4) (see figure below)
Test Condition
R1
R2
CL
A
300Ω
390Ω
50pF
B
Active High
∞
390Ω
50pF
Active Low
300Ω
390Ω
50pF
C
Active High
∞
390Ω
5pF
Active Low
300Ω
390Ω
5pF
TEST POINT
Z0 = 50Ω, CL*
FROM OUTPUT (O/Q)
UNDER TEST
+1.45V
R1
Switching Test Conditions
ALL
DEVICES
DISCONTINUED
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PDF描述
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