參數(shù)資料
型號(hào)： FXLP4555MPX
廠商： Fairchild Semiconductor
文件頁(yè)數(shù)： 9/13頁(yè)
文件大小： 0K
描述： IC LEVEL SHIFTER SIM 16MLP
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 3,000
邏輯功能： 電平移位器
位數(shù)： *
輸入類(lèi)型： 電壓
輸出類(lèi)型： 電壓
通道數(shù)： *
輸出/通道數(shù)目： *
差分 - 輸入:輸出： 無(wú)/無(wú)
傳輸延遲（最大）： *
電源電壓： 1.8 V ~ 3 V
工作溫度： -40°C ~ 85°C
封裝/外殼： 16-WFQFN 裸露焊盤(pán)
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 16-MLP（3x3）
包裝： 帶卷 (TR)
2010 Fairchild Semiconductor Corporation
www.fairchildsemi.com
FXLP4555 Rev. 1.0.0
5
FXLP4555
—
1.8V
/
3
.0V
SIM
Card
Power
Supply
an
d
Level
Shifter
Absolute Maximum Ratings
Stresses exceeding the absolute maximum ratings may damage the device. The device may not function or be
operable above the recommended operating conditions and stressing the parts to these levels is not recommended.
In addition, extended exposure to stresses above the recommended operating conditions may affect device reliability.
The absolute maximum ratings are stress ratings only. TA=+25°C.
Symbol
Parameter
Min.
Typ.
Max.
Unit
VBAT
LDO Power Supply Voltage
-0.5
VBAT
6.0
V
VCCA
Power Supply from Baseband Side
-0.5
VCCA
6.0
V
VCC_C
External Card Power Supply
-0.5
VCC_C
6.0
V
VIN
Digital Input Pin Voltage
-0.5
VIN
VCCA+0.5,
but <6.0
V
IIN
Digital Input Pin Current
-5
+5
mA
VOUT
Digital Output Pin Voltage
-0.5
VOUT
VCCA+0.5,
but <6.0
V
IOUT
Digital Output Pin Current
-10
+10
mA
VOUT_SIM
SIM Card Output Pin Voltage
-0.5
VOUT
SIM_VCC+
0.5<6.0
V
IOUT_SIM
SIM Card Output Pin Current
(1)
15
mA
PD
Power Dissipation at TA=+85°C
440
mW
ΘJA
Thermal Resistance, Junction-to-Air
72
°C/W
TA
Operating Ambient Temperature Range
-40
+85
°C
TJ
Operating Junction Temperature Range
-40
+125
°C
TJMAX
Maximum Junction Temperature
+125
°C
TSTG
Storage Temperature Range
-65
+150
°C
ESD
Electrostatic
Discharge
Capability
Human Body
Model,
JESD22-A114
R=1500,
C=100pF
SIM Card Pins
(7,8,9,10,11)
8000
V
All Other Pins
2000
Charged
Device Model,
JESD22-C101
SIM Card Pins
(7,8,9,10,11)
2000
All Other Pins
600
Moisture Sensitivity Level
1
Level
Notes:
1.
Internally limited.
2.
Meets or exceeds JEDEC specification EIA/JESD78 IC latchup test.
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PDF描述
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