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參數(shù)資料
| 型號： | EP7312-IBZ |
| 廠商： | Cirrus Logic Inc |
| 文件頁數(shù)： | 17/54頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC ARM720T MCU 74MHZ 256-PBGA |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 90 |
| 系列： | EP7 |
| 核心處理器： | ARM7 |
| 芯體尺寸： | 32-位 |
| 速度： | 74MHz |
| 連通性： | 編解碼器，DAI，EBI/EMI，IrDA，鍵盤，SPI/Microwire1，UART/USART |
| 外圍設(shè)備： | LCD，LED，MaverickKey，PWM |
| 輸入/輸出數(shù)： | 27 |
| 程序存儲器類型： | ROMless |
| RAM 容量： | 56K x 8 |
| 電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： | 2.3 V ~ 2.7 V |
| 振蕩器型： | 外部 |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 256-BGA |
| 包裝： | 托盤 |
| 配用： | 598-1209-ND - KIT DEVELOPMENT EP73XX ARM7 |
| 其它名稱： | 598-1242 |
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Copyright Cirrus Logic, Inc. 2011
(All Rights Reserved)
DS508F2
EP7312
High-Performance, Low-Power System on Chip
Static Memory Burst Read Cycle
Note: 1. Four cycles are shown in the above diagram (minimum wait states, 1-0-0-0). This is the maximum number of consecutive
cycles that can be driven. The number of consecutive cycles can be programmed from 2 to 4, inclusively.
2. The cycle time can be extended by integer multiples of the clock period (22 ns at 45 MHz, 27 ns at 36 MHz, 54 ns at
18.432 MHz, and 77 ns at 13 MHz), by either driving EXPRDY low and/or by programming a number of wait states. EXPRDY is
sampled on the falling edge of EXPCLK before the data transfer. If low at this point, the transfer is delayed by one clock period
where EXPRDY is sampled again. EXPCLK need not be referenced when driving EXPRDY, but is shown for clarity.
3. Consecutive reads with sequential access enabled are identical except that the sequential access wait state field is used to
determine the number of wait states, and no idle cycles are inserted between successive non-sequential ROM/expansion
cycles. This improves performance so the SQAEN bit should always be set where possible.
4. Address, Halfword, Word, and Write hold state until next cycle.
EXPCLK
nCS
A
nMOE
HALF
WORD
D
nMWE
EXPRDY
WRITE
t
CSd
t
Ad
t
Ah
t
Ah
t
Ah
t
CSh
t
MOEh
t
MOEd
t
EXs
t
EXh
t
Ds
t
Dh
t
Ds
t
Ds
t
Ds
t
Dh
t
Dh
t
Dh
t
WRd
t
HWd
t
WDd
Figure 9. Static Memory Burst Read Cycle Timing Measurement
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