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參數(shù)資料
| 型號： | EP2S15F484C5N |
| 廠商： | Altera |
| 文件頁數(shù)： | 684/768頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC STRATIX II FPGA 15K 484-FBGA |
| 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： | Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 20 |
| 系列： | Stratix® II |
| LAB/CLB數(shù)： | 780 |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 15600 |
| RAM 位總計： | 419328 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 342 |
| 電源電壓： | 1.15 V ~ 1.25 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 484-BBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 484-FBGA（23x23） |
| 其它名稱： | 544-1876 EP2S15F484C5N-ND |
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9–22
Altera Corporation
Stratix II Device Handbook, Volume 2
January 2008
References
Bleeker, H., P. van den Eijnden, and F. de Jong. Boundary-Scan Test: A
Practical Approach. Eindhoven, The Netherlands: Kluwer Academic
Publishers, 1993.
Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. IEEE Standard Test
Access Port and Boundary-Scan Architecture (IEEE Std 1149.1-2001). New
York: Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., 2001.
Maunder, C. M., and R. E. Tulloss. The Test Access Port and Boundary-Scan
Architecture. Los Alamitos: IEEE Computer Society Press, 1990.
Referenced
Documents
This chapter references the following documents:
■
Configuration & Testing chapter in volume 1 of the Stratix II Device
Handbook
■
Configuration & Testing chapter in volume 1 of the Stratix II GX Device
Handbook
■
Configuring Stratix II & Stratix II GX Devices chapter in volume 2 of the
Stratix II Device Handbook
■
Configuring Stratix II & Stratix II GX Devices chapter in volume 2 of the
Stratix II GX Device Handbook
Document
Revision History
Table 9–5 shows the revision history for this chapter.
Table 9–5. Document Revision History (Part 1 of 2)
Date and
Document
Version
Changes Made
Summary of Changes
January 2008,
v3.3
Added “Referenced Documents” section.
—
Minor text edits.
—
No change
For the Stratix II GX Device Handbook only:
Formerly chapter 14. The chapter number changed
due to the addition of the Stratix II GX Dynamic
Reconfiguration chapter. No content change.
—
February 2007
v3.2
Added the “Document Revision History” section to
this chapter.
—
April 2006, v3.1
Chapter updated as part of the Stratix II Device
Handbook update.
—
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| REC3-4809SRWZ/H/B | CONV DC/DC 3W 18-72VIN 09VOUT |
| EPF10K40RC240-4 | IC FLEX 10K FPGA 40K 240-RQFP |
| TPSD227K006S0100 | CAP TANT 220UF 6.3V 10% 2917 |
| HAZ331MBABRBKR | CAP CER 330PF 1KV 20% RADIAL |
| NCP1086ST-33T3G | IC REG LDO 3.3V 1.5A SOT223 |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| EP2S15F484I4 | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 342 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| EP2S15F484I4N | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 342 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| EP2S15F672C3 | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 366 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| EP2S15F672C3N | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 366 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| EP2S15F672C4 | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 FPGA - Stratix II 780 LABs 366 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
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