- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網(wǎng) > PDF目錄97913 > EP1K50FC256-2DX Field Programmable Gate Array (FPGA) PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號(hào)： | EP1K50FC256-2DX |
| 英文描述： | Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| 中文描述： | 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列（FPGA） |
| 文件頁數(shù)： | 40/86頁 |
| 文件大?。?/td> | 1263K |
| 代理商： | EP1K50FC256-2DX |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁當(dāng)前第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁
Altera Corporation
45
ACEX 1K Programmable Logic Device Family Data Sheet
Development
13
Tools
Generic Testing
Each ACEX 1K device is functionally tested. Complete testing of each
configurable static random access memory (SRAM) bit and all logic
functionality ensures 100% yield. AC test measurements for ACEX 1K
devices are made under conditions equivalent to those shown in
Figure 21. Multiple test patterns can be used to configure devices during
all stages of the production flow.
Figure 21. ACEX 1K AC Test Conditions
Operating
Conditions
recommended operating conditions, DC operating conditions, and
capacitance for 2.5-V ACEX 1K devices.
To Test
System
C1 (includes
JIG capacitance)
Device input
rise and fall
times < 3 ns
Device
Output
703
8.06 k
[481
]
[481
]
VCCIO
Power supply transients can affect AC
measurements. Simultaneous transitions of
multiple outputs should be avoided for
accurate measurement. Threshold tests
must not be performed under AC
conditions. Large-amplitude, fast-ground-
current transients normally occur as the
device outputs discharge the load
capacitances. When these transients ow
through the parasitic inductance between
the device ground pin and the test system
ground, signicant reductions in
observable noise immunity can result.
Numbers in brackets are for 2.5-V devices
or outputs. Numbers without brackets are
for 3.3-V devices or outputs.
Table 18. ACEX 1K Device Absolute Maximum Ratings
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Max
Unit
VCCINT
Supply voltage
With respect to ground (2)
–0.5
3.6
V
VCCIO
–0.5
4.6
V
VI
DC input voltage
–2.0
5.75
V
IOUT
DC output current, per pin
–25
25
mA
TSTG
Storage temperature
No bias
–65
150
°
C
TAMB
Ambient temperature
Under bias
–65
135
°
C
TJ
Junction temperature
PQFP, TQFP, and BGA packages, under
bias
135
°
C
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| EP1K50FC256-2F | Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| EP1K50FC256-2P | Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| EP1K50FC256-2X | Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| EP1K50FC256-3F | Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| EP1K50FC484-1DX | Field Programmable Gate Array (FPGA) |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| EP1K50FC256-2F | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| EP1K50FC256-2N | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列 FPGA - ACEX 1K 360 LABs 186 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| EP1K50FC256-2P | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| EP1K50FC256-2X | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| EP1K50FC256-3 | 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列 FPGA - ACEX 1K 360 LABs 186 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
發(fā)布緊急采購(gòu)，3分鐘左右您將得到回復(fù)。