參數(shù)資料
型號(hào)： BUK866-400IZ
廠商： NXP SEMICONDUCTORS
元件分類(lèi)： IGBT 晶體管
英文描述： Insulated Gate Bipolar Transistor Protected Logic-Level IGBT
中文描述： 20 A, 500 V, N-CHANNEL IGBT
文件頁(yè)數(shù)： 6/8頁(yè)
文件大小： 85K
代理商： BUK866-400IZ
Philips Semiconductors
Product specification
Insulated Gate Bipolar Transistor
Protected Logic-Level IGBT
BUK866-400 IZ
Fig.19. Typical Turn-off dV
/dt vs. R
conditions: T
j
=125 C; I
C
=8 A; V
CL
=300 V; L
C
=5 mH.
Fig.20. Test circuit for inductive load switching times
Fig.21. Definitions of inductive load switching times
Fig.22. Reverse Breakdown Voltage
V
(BR)ECS
= f(T
j
); conditions: I
EC
= 50 mA
Fig.23. Test circuit for clamped turn-off energy test
Fig.24. Definition of clamping energy E
CER
0
2
Rg / kOhm
4
dVce/dt (V/us)
PMG35A
150
100
50
0
1
3
5
0
100
Tj / degC
V(BR)ECS / V
BUK856-400IZ
35
30
25
20
min.
typ.
-50
50
150
: adjust for correct Ic
Vcc
V
Lc
D.U.T.
R
0V
tp
0R1
G
VGE
IC measure
CL
: adjust for correct Ic
Vcc
Lc
D.U.T.
R
0V
tp
0R1
G
V
IC measure
GE
GE
C
CE
t
t
td(off)
tf
tc
10%
90%
10%
90%
V
V
I
t
t
V(cl)cer
I
Vce
Vge
V
Ecer
Ic
Vce x Ic
P
t
December 1996
6
Rev. 1.100
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PDF描述
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