參數(shù)資料
型號： AT91SAM7SE32B-CU
廠商： Atmel
文件頁數(shù)： 43/47頁
文件大小： 0K
描述： IC MCU ARM7 32KB FLASH 144LFBGA
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 240
系列： SAM7SE
核心處理器： ARM7
芯體尺寸： 16/32-位
速度： 55MHz
連通性： EBI/EMI，I²C，SPI，SSC，UART/USART，USB
外圍設(shè)備： 欠壓檢測/復(fù)位，POR，PWM，WDT
輸入/輸出數(shù)： 88
程序存儲器容量： 32KB（32K x 8）
程序存儲器類型： 閃存
RAM 容量： 8K x 8
電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： 1.65 V ~ 1.95 V
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： A/D 8x10b
振蕩器型： 內(nèi)部
工作溫度： -40°C ~ 85°C
封裝/外殼： 144-LFBGA
包裝： 托盤
5
6222GS–ATARM–6-Sep-11
SAM7SE512/256/32 Summary
3.
Signal Description
Table 3-1.
Signal Description List
Signal Name
Function
Type
Active
Level
Comments
Power
VDDIN
Voltage Regulator and ADC Power
Supply Input
Power
3V to 3.6V
VDDOUT
Voltage Regulator Output
Power
1.85V
VDDFLASH
Flash and USB Power Supply
Power
3V to 3.6V
VDDIO
I/O Lines Power Supply
Power
3V to 3.6V or 1.65V to 1.95V
VDDCORE
Core Power Supply
Power
1.65V to 1.95V
VDDPLL
PLL
Power
1.65V to 1.95V
GND
Ground
Clocks, Oscillators and PLLs
XIN
Main Oscillator Input
Input
XOUT
Main Oscillator Output
Output
PLLRC
PLL Filter
Input
PCK0 - PCK2
Programmable Clock Output
Output
ICE and JTAG
TCK
Test Clock
Input
No pull-up resistor
TDI
Test Data In
Input
No pull-up resistor
TDO
Test Data Out
Output
TMS
Test Mode Select
Input
No pull-up resistor.
JTAGSEL
JTAG Selection
Input
Pull-down resistor(1)
Flash Memory
ERASE
Flash and NVM Configuration Bits Erase
Command
Input
High
Pull-down resistor (1)
Reset/Test
NRST
Microcontroller Reset
I/O
Low
Open drain with pull-up resistor (1)
TST
Test Mode Select
Input
High
Pull-down resistor (1)
Debug Unit
DRXD
Debug Receive Data
Input
DTXD
Debug Transmit Data
Output
AIC
IRQ0 - IRQ1
External Interrupt Inputs
Input
FIQ
Fast Interrupt Input
Input
相關(guān)PDF資料
PDF描述
AT91SAM9R64-CU IC MCU ARM9 32KB ROM 144LFBGA
AT89C51CC03UA-S3SUM IC 8051 MCU 64K FLASH 52-PLCC
VI-J4B-IY-F3 CONVERTER MOD DC/DC 95V 50W
LPC2294HBD144,551 IC ARM7 MCU FLASH 256K 144-LQFP
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