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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | AM29LV017D-70EC |
| 廠商： | ADVANCED MICRO DEVICES INC |
| 元件分類(lèi)： | PROM |
| 英文描述： | 16 Megabit (2 M x 8-Bit) CMOS 3.0 Volt-only Uniform Sector Flash Memory |
| 中文描述： | 2M X 8 FLASH 3V PROM, 70 ns, PDSO40 |
| 封裝： | MO-142CD, TSOP-40 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 29/45頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 955K |
| 代理商： | AM29LV017D-70EC |
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28
Am29LV017D
TEST CONDITIONS
Table 10.
Test Specifications
KEY TO SWITCHING WAVEFORMS
2.7 k
C
L
6.2 k
3.3 V
Device
Under
Test
Figure 11.
Test Setup
Note:
Diodes are IN3064 or equivalent
Test Condition
-70
-90,
-120
Unit
Output Load
1 TTL gate
Output Load Capacitance, C
L
(including jig capacitance)
30
100
pF
Input Rise and Fall Times
5
ns
Input Pulse Levels
0.0–3.0
V
Input timing measurement
reference levels
1.5
V
Output timing measurement
reference levels
1.5
V
WAVEFORM
INPUTS
OUTPUTS
Steady
Changing from H to L
Changing from L to H
Don’t Care, Any Change Permitted
Changing, State Unknown
Does Not Apply
Center Line is High Impedance State (High Z)
3.0 V
0.0 V
1.5 V
1.5 V
Output
Measurement Level
Input
Figure 12.
Input Waveforms and Measurement Levels
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PDF描述 |
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