參數(shù)資料
型號: ADG711BR
廠商: ANALOG DEVICES INC
元件分類: 運動控制電子
英文描述: CMOS Low Voltage 4 ohm Quad SPST Switches
中文描述: QUAD 1-CHANNEL, SGL POLE SGL THROW SWITCH, PDSO16
封裝: MS-012AC, SOIC-16
文件頁數(shù): 7/8頁
文件大?。?/td> 119K
代理商: ADG711BR
ADG711/ADG712/ADG713
–7–
REV. 0
APPLICATIONS
Figure 9 illustrates a photodetector circuit with programmable
gain. An AD820 is used as the output operational amplifier.
With the resistor values shown in the circuit, and using different
combinations of the switches, gain in the range of 2 to 16 can be
achieved.
C1
+5V
+2.5V
R3
510k
V
V
OUT
GND
D1
S1
D1
GAIN RANGE 2 TO 16
+5V
AD820
S2
D2
S3
D3
S4
D4
(LSB) IN1
IN2
IN3
(MSB) IN4
R4
240k
V
R5
240k
V
R6
120k
V
R7
120k
V
R8
120k
V
R9
120k
V
R10
120k
V
R1
33k
V
R2
510k
V
+2.5V
Figure 9. Photodetector Circuit with Programmable Gain
I
DS
V1
S
D
V
S
R
ON
= V1/I
DS
Test Circuit 1. On Resistance
Test Circuits
V
D
I
S
(OFF)
A
I
D
(OFF)
A
S
D
V
S
Test Circuit 2. Off Leakage
0.1
m
F
V
S
IN
S
D
V
DD
GND
R
L
300
V
C
35pF
V
OUT
V
DD
ADG711
ADG712
V
IN
V
IN
V
OUT
t
ON
t
OFF
50%
50%
90%
90%
50%
50%
V
S
Test Circuit 4. Switching Times
S1
D1
0.1
m
F
V
DD
IN1, IN2
V
S1
GND
R
L1
300
V
C
35pF
V
OUT1
V
S2
V
OUT2
R
L2
300
V
C
35pF
S2
V
IN
D2
V
DD
ADG713
t
D
t
D
50%
50%
90%
V
IN
V
OUT1
V
OUT2
90%
90%
90%
0V
0V
0V
Test Circuit 5. Break-Before-Make Time Delay, t
D
I
D
(ON)
A
S
D
V
D
V
S
Test Circuit 3. On Leakage
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PDF描述
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