IDS V1 SD VS
參數(shù)資料
型號： ADG433BNZ
廠商： Analog Devices Inc
文件頁數(shù)： 7/8頁
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描述： IC SWITCH QUAD SPST 16DIP
產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： iCMOS™ Switches and Multiplexers for Data Acquisition
Switch Fundamentals
產(chǎn)品變化通告： Product Discontinuance 27/Oct/2011
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 25
系列： LC²MOS
功能： 開關(guān)
電路： 4 x SPST - NC/NO
導(dǎo)通狀態(tài)電阻： 42 歐姆
電壓電源： 單/雙電源
電壓 - 電源，單路/雙路(±)： 12V，±15V
電流 - 電源： 100pA
工作溫度： -40°C ~ 85°C
安裝類型： 通孔
封裝/外殼： 16-DIP（0.300"，7.62mm）
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 16-PDIP
包裝： 管件
產(chǎn)品目錄頁面： 800 (CN2011-ZH PDF)
ADG431/ADG432/ADG433
REV. C
–7–
Test Circuits
IDS
V1
SD
VS
RON = V1/IDS
Test Circuit 1. On Resistance
SD
+15V
+5V
0.1 F
VDD
VL
IN
VS
GND
VSS
RL
300
CL
35pF
VOUT
0.1 F
–15V
tON
tOFF
3V
50%
3V
90%
VIN
VOUT
ADG431
ADG432
Test Circuit 4. Switching Times
S1
D1
+15V
+5V
0.1 F
VDD
VL
IN1, IN2
VS1
GND
VSS
RL1
300
CL1
35pF
VOUT1
0.1 F
–15V
VS2
VOUT2
RL2
300
CL2
35pF
S2
VIN
D2
tD
3V
50%
90%
VIN
VOUT1
VOUT2
90%
0V
Test Circuit 5. Break-Before-Make Time Delay
SD
+15V
+5V
VDD
VL
IN
VS
GND
VSS
CL
10nF
VOUT
–15V
RS
3V
VIN
VOUT
QINJ = CL
VOUT
Test Circuit 6. Charge Injection
SD
VS
A
VD
A
IS (OFF)
ID (OFF)
Test Circuit 2. Off Leakage
SD
VS
VD
A
ID (ON)
Test Circuit 3. On Leakage
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PDF描述
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