VMS A B W V+ = V
參數(shù)資料
型號: AD5222BRUZ10
廠商: Analog Devices Inc
文件頁數(shù): 8/10頁
文件大小: 0K
描述: IC POT DGTL DUAL 128POS 14TSSOP
產(chǎn)品變化通告: Product Discontinuance 27/Oct/2011
標準包裝: 96
接片: 128
電阻(歐姆): 10k
電路數(shù): 2
溫度系數(shù): 標準值 -35 ppm/°C
存儲器類型: 易失
接口: 4 線串行(芯片選擇,遞增,增/減)
電源電壓: 2.7 V ~ 5.5 V,±2.3 V ~ 2.7 V
工作溫度: -40°C ~ 85°C
安裝類型: 表面貼裝
封裝/外殼: 14-TSSOP(0.173",4.40mm 寬)
供應商設備封裝: 14-TSSOP
包裝: 管件
Parametric Test Circuits–AD5222
–7–
REV. 0
V+
DUT
VMS
A
B
W
V+ = VDD
1LSB = V+/128
Figure 21. Potentiometer Divider Nonlinearity Error Test
Circuit (INL, DNL)
NO CONNECT
IW
DUT
VMS
A
B
W
Figure 22. Resistor Position Nonlinearity Error (Rheostat
Operation; R-INL, R-DNL)
VMS2
VW
IW = VDD/RNOMINAL
DUT
VMS1
A
B
W
RW = [VMS1 – VMS2]/IW
Figure 23. Wiper Resistance Test Circuit
PSRR (dB) = 20 LOG
( ––––– )
PSS (%/%) = –––––––
VMS
VDD
VMS%
VDD%
V+ = VDD ± 10%
VDD
VA
~
V+
VMS
A
B
W
Figure 24. Power Supply Sensitivity Test Circuit (PSS,
PSRR)
A
B
VIN
OP279
+5V
VOUT
DUT
W
+
–5V
Figure 25. Inverting Programmable Gain Test Circuit
+5V
–5V
A
B
VIN
VOUT
DUT
W
OP279
Figure 26. Noninverting Programmable Gain Test Circuit
A
B
DUT
W
VIN
OP42
+15V
VOUT
–15V
Figure 27. Gain vs. Frequency Test Circuit
ISW
0 TO VDD
RSW =
0.1V
ISW
CODE = 00H
0.1V
DUT
B
W
Figure 28. Incremental ON Resistance Test Circuit
相關PDF資料
PDF描述
AD5110BCPZ10-500R7 IC DGTL POT 128POS 10K 8LFCSP
MS3121F14-19PY CONN RCPT 19POS CBL MNT W/PINS
ISL12028IB27AZ-T IC RTC/CALENDAR EEPROM 14-SOIC
ISL12028IB30AZ IC RTC/CALENDAR EEPROM 14-SOIC
VI-JWY-MZ CONVERTER MOD DC/DC 3.3V 16.5W
相關代理商/技術參數(shù)
參數(shù)描述
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AD5222BRUZ1M 功能描述:IC POT DGTL DUAL 128POS 14TSSOP RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 數(shù)據(jù)采集 - 數(shù)字電位器 系列:- 標準包裝:3,000 系列:DPP 接片:32 電阻(歐姆):10k 電路數(shù):1 溫度系數(shù):標準值 300 ppm/°C 存儲器類型:非易失 接口:3 線串行(芯片選擇,遞增,增/減) 電源電壓:2.5 V ~ 6 V 工作溫度:-40°C ~ 85°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:8-WFDFN 裸露焊盤 供應商設備封裝:8-TDFN(2x3) 包裝:帶卷 (TR)
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