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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | AD5206BR10 |
| 廠商： | Analog Devices Inc |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 8/20頁(yè) |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC DGTL POT 6CH 256POS 24-SOIC |
| 產(chǎn)品變化通告： | Product Discontinuance 27/Oct/2011 |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 31 |
| 接片： | 256 |
| 電阻（歐姆）： | 10k |
| 電路數(shù)： | 6 |
| 溫度系數(shù)： | 標(biāo)準(zhǔn)值 700 ppm/°C |
| 存儲(chǔ)器類型： | 易失 |
| 接口： | 3 線串行（芯片選擇） |
| 電源電壓： | 2.7 V ~ 5.5 V，±2.3 V ~ 2.7 V |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬） |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 24-SOIC W |
| 包裝： | 管件 |
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AD5204/AD5206
Rev. C | Page 16 of 20
TEST CIRCUITS
340k
VSS
LOGIC
06
88
4-
05
0
Figure 25. ESD Protection of Digital Pins
A, B, W
06
88
4-
05
1
VSS
Figure 26. ESD Protection of Resistor Terminals
V+
DUT
VMS
A
B
W
V+ = VDD
1LSB = V+/256
0
688
4-
0
36
Figure 27. Potentiometer Divider Nonlinearity Error Test Circuit (INL, DNL)
DUT
VMS
A
B
W
NO CONNECT
IW
06
88
4-
03
7
Figure 28. Resistor Position Nonlinearity Error
(Rheostat Operation; R-INL, R-DNL)
V+
A
B
W
DUT
IMS
VMS
IW = 1V/RNOMINAL
IW
VW
V+
VDD
RW =
WHERE VW1 = VMS WHEN IW = 0
AND VW2 = VMS WHEN IW = 1/R
VW2 – [VW1 + IW(RAWII RBW)]
0
68
84
-05
2
Figure 29. Wiper Resistance Test Circuit
V+
A
B
W
~
VA
VMS
VDD
V+ = VDD ± 10%
PSRR (dB) = 20 log
VMS
VDD
PSS (%/%) =
VMS%
VDD%
(
)
0
68
84
-0
39
Figure 30. Power Supply Sensitivity Test Circuit (PSS, PSRR)
A
VIN
OFFSET BIAS
OP279
5V
VOUT
DUT
W
OFFSET
GND
B
0
68
84
-04
0
Figure 31. Inverting Programmable Gain Test Circuit
A
VIN
OFFSET BIAS
OP279
5V
VOUT
DUT
W
OFFSET
GND
B
06
88
4
-04
1
Figure 32. Noninverting Programmable Gain Test Circuit
B
A
VIN
2.5V
+15V
VOUT
DUT
W
–15V
OFFSET
GND
OP42
0
68
84
-0
42
Figure 33. Gain vs. Frequency Test Circuit
DUT
ISW
B
W
VSS TO VDD
RSW =
0.1V
ISW
CODE = 0x00
0.1V
+
–
06
88
4-
0
4
3
Figure 34. Incremental On-Resistance Test Circuit
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PDF描述 |
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