參數(shù)資料
型號(hào)： AD5165BUJZ100-R7
廠商： Analog Devices Inc
文件頁數(shù)： 3/16頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC DGTL POT 100K LP TSOT23-8
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 3,000
接片： 256
電阻（歐姆）： 100k
電路數(shù)： 1
溫度系數(shù)： 標(biāo)準(zhǔn)值 35 ppm/°C
存儲(chǔ)器類型： 易失
接口： 3 線串行（芯片選擇）
電源電壓： 2.7 V ~ 5.5 V
工作溫度： -40°C ~ 125°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： SOT-23-8 薄型，TSOT-23-8
供應(yīng)商設(shè)備封裝： TSOT-23-8
包裝： 帶卷 (TR)
配用： EVAL-AD5165EBZ-ND - BOARD EVALUATION FOR AD5165
AD5165
Rev. 0 | Page 11 of 16
TEST CIRCUITS
Figure 27 to Figure 33 illustrate the test circuits that define the test conditions used in the product specification tables.
VMS
A
W
B
DUT
V+
V+ = VDD
1LSB = V+/2N
04749-0-031
Figure 27. Test Circuit for Potentiometer Divider Nonlinearity Error
(INL, DNL)
NO CONNECT
IW
VMS
A
W
B
DUT
04749-0-032
Figure 28. Test Circuit for Resistor Position Nonlinearity Error
(Rheostat Operation; R-INL, R-DNL)
VMS2
VMS1
VW
A
W
B
DUT
IW = VDD/RNOMINAL
RW = [VMS1 – VMS2]/IW
04749-0-033
Figure 29. Test Circuit for Wiper Resistance
04749-0-034
V
MS%
DD%
PSS (%/%) =
V+ = VDD 10%
PSRR (dB) = 20 LOG
MS
DD
(
)
VDD
VA
VMS
A
W
B
V+
V
Figure 30. Test Circuit for Power Supply Sensitivity (PSS, PSSR)
+15V
–15V
W
A
2.5V
B
VOUT
OFFSET
GND
DUT
AD8610
VIN
04749-0-035
Figure 31. Test Circuit for Gain vs. Frequency
W
B
GND TO VDD
DUT
ISW
CODE = 0x00
RSW =
0.1V
ISW
0.1V
04749-0-036
Figure 32. Test Circuit for Incremental ON Resistance
W
B
VCM
ICM
A
NC
GND
NC
VDD
DUT
NC = NO CONNECT
04749-0-037
Figure 33. Test Circuit for Common-Mode Leakage Current
相關(guān)PDF資料
PDF描述
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AD5170BRM100 功能描述:IC DGTL POT 100K 256POS 10-MSOP RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 數(shù)據(jù)采集 - 數(shù)字電位器 系列:- 標(biāo)準(zhǔn)包裝:3,000 系列:DPP 接片:32 電阻（歐姆）:10k 電路數(shù):1 溫度系數(shù):標(biāo)準(zhǔn)值 300 ppm/°C 存儲(chǔ)器類型:非易失 接口:3 線串行（芯片選擇，遞增，增/減） 電源電壓:2.5 V ~ 6 V 工作溫度:-40°C ~ 85°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:8-WFDFN 裸露焊盤 供應(yīng)商設(shè)備封裝:8-TDFN（2x3） 包裝:帶卷 (TR)
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