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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | TMS27C512-120JL4 |
| 英文描述： | x8 EPROM |
| 中文描述： | x8存儲(chǔ)器 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 9/13頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 184K |
| 代理商： | TMS27C512-120JL4 |
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TMS27C512 65536 BY 8-BIT UV ERASABLE
TMS27PC512 65536 BY 8-BIT
PROGRAMMABLE READ-ONLY MEMORIES
SMLS512G – NOVEMBER 1985 – REVISED SEPTEMBER 1997
9
POST OFFICE BOX 1443
HOUSTON, TEXAS 77251–1443
timing requirements for programming
MIN
NOM
MAX
UNIT
μ
s
μ
s
μ
s
μ
s
μ
s
μ
s
μ
s
μ
s
μ
s
μ
s
ns
tw(IPGM)
tsu(A)
tsu(D)
tsu(VPP
tsu(VCC)
th(A)
th(D)
th(VPP)
trec(PG)
tEHD
tr(PG)G
Pulse duration, initial program
95
100
105
Setup time, address
2
Setup time, data
2
Setup time, G/VPP
Setup time, VCC
Hold time, address
2
2
0
Hold time, data
2
Hold time, G/VPP
Recovery time, G/VPP
Data valid from E low
2
2
1
Rise time, G/VPP
50
PARAMETER MEASUREMENT INFORMATION
2.08 V
RL = 800
Output
Under Test
CL = 100 pF
(see Note A)
2.4 V
0.4 V
2 V
0.8 V
2 V
0.8 V
NOTES: A. CL includes probe and fixture capacitance.
B. The ac testing inputs are driven at 2.4 V for logic high and 0.4 V for logic low. Timing
measurements are made at 2 V for logic high and 0.8 V for logic low for both inputs
and outputs.
Figure 2. AC Testing Output Load Circuit
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| TMS27C512-150JE4 | x8 EPROM |
| TMS27C512-150JL4 | x8 EPROM |
| TMS27PC512-100NE | x8 EPROM |
| TMS27PC512-100NE4 | x8 EPROM |
| TMS27PC512-100NL | x8 EPROM |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| TMS27C512-12JE | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:TMS27PC512 65536 BY 8-BIT PROGRAMMABLE READ-ONLY MEMORIES |
| TMS27C512-12JE4 | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:x8 EPROM |
| TMS27C512-12JL | 制造商:Texas Instruments 功能描述: |
| TMS27C512-12JL4 | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:x8 EPROM |
| TMS27C512-150JE4 | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:x8 EPROM |
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