參數(shù)資料
型號(hào)： SN54ABT8952FK
廠商： Texas Instruments, Inc.
英文描述： SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS
中文描述： 掃描測(cè)試設(shè)備與八進(jìn)制注冊(cè)總線收發(fā)器
文件頁(yè)數(shù)： 3/24頁(yè)
文件大?。?/td> 365K
代理商： SN54ABT8952FK
SN54ABT8952, SN74ABT8952
SCAN TEST DEVICES WITH
OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS
SCBS121D – AUGUST 1992 – REVISED JULY 1996
3
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
functional block diagram
Boundary-Control
Register
Bypass Register
Boundary-Scan Register
Instruction Register
TDI
TMS
TCK
TDO
TAP
Controller
VCC
VCC
1D
C1
1D
C1
One of Eight Channels
OEBA
CLKENBA
CLKBA
OEAB
CLKENAB
CLKAB
A1
B1
G1
1
1
G1
1
1
MUX
MUX
25
13
26
27
28
3
2
1
4
16
14
15
Pin numbers shown are for the DL, DW, and JT packages.
相關(guān)PDF資料
PDF描述
SN54ABT8952JT SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS
SN54ABTE16245WD 16-BIT INCIDENT-WAVE SWITCHING BUS TRANSCEIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS
SN74ABTE16245DGG 16-BIT INCIDENT-WAVE SWITCHING BUS TRANSCEIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS
SN54AC00FK QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
SN54AC00J QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù)
參數(shù)描述
SN54ABT8952JT 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS
SN54ABT8996 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:10-BIT ADDRESSABLE SCAN PORTS MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 JTAG TAP TRANSCEIVERS
SN54ABT8996FK 制造商:Texas Instruments 功能描述:ADDRESSABLE SCAN PORT 28LCCC - Rail/Tube
SN54ABT8996JT 制造商:Texas Instruments 功能描述:ADDRESSABLE SCAN PORT 24CDIP - Rail/Tube
SN54ABTE16245 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:16-BIT INCIDENT-WAVE SWITCHING BUS TRANSCEIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS
發(fā)布緊急采購(gòu)，3分鐘左右您將得到回復(fù)。

采購(gòu)需求

(若只采購(gòu)一條型號(hào)，填寫一行即可)

發(fā)布成功！您可以繼續(xù)發(fā)布采購(gòu)。也可以進(jìn)入我的后臺(tái)，查看報(bào)價(jià)

發(fā)布成功！您可以繼續(xù)發(fā)布采購(gòu)。也可以進(jìn)入我的后臺(tái)，查看報(bào)價(jià)

*型號(hào) *數(shù)量 廠商 批號(hào) 封裝
添加更多采購(gòu)

我的聯(lián)系方式

*
*
*