參數(shù)資料
型號(hào)： SN54ABT8652FK
廠商： Texas Instruments, Inc.
英文描述： SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS
中文描述： 掃描測(cè)試設(shè)備與八路總線(xiàn)收發(fā)器和寄存器
文件頁(yè)數(shù)： 4/25頁(yè)
文件大小： 366K
代理商： SN54ABT8652FK
SN54ABT8652, SN74ABT8652
SCAN TEST DEVICES
WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS
SCBS122F – AUGUST 1992 – REVISED DECEMBER 1996
4
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
functional block diagram
Boundary-Control
Register
Bypass Register
Boundary-Scan Register
Instruction Register
TDI
TMS
TCK
TDO
TAP
Controller
VCC
VCC
One of Eight Channels
OEAB
OEBA
CLKBA
SBA
CLKAB
SAB
A1
B1
1D
C1
1D
C1
25
13
3
26
28
27
1
2
4
16
14
15
Pin numbers shown are for the DL, DW, and JT packages.
相關(guān)PDF資料
PDF描述
SN54ABT8652JT SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS
SN54ABT8952 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS
SN54ABT8952FK SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS
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參數(shù)描述
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