鉑電阻元件

型號：
鉑電阻元件
廠家：
1
批號：
17
封裝：
sop

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產(chǎn)品信息

系列	圖片	簡介	下載
STT-R		STT-R系列溫度傳感器采用不銹鋼外殼封裝，內(nèi)部填充導(dǎo)熱材料和密封材料灌封而成，尺寸小巧防水防震性能極佳，可達(dá)IP67，廣泛應(yīng)用于水溫、氣溫、冷凍冷藏、醫(yī)療衛(wèi)生、航空航天、環(huán)境等溫度的測量
STT-S		STT-S系列溫度傳感器適用于金屬設(shè)備表面和內(nèi)部溫度的測量，通過加長螺紋，也可測量軸承和軸瓦的溫度，安裝簡單方便
STT-T		STT-T系列溫度傳感器采用不銹鋼外殼封裝，內(nèi)部填充導(dǎo)熱材料和密封材料灌封而成，尺寸小巧，適用于精密儀器、恒溫設(shè)備、流體管道等溫度的測量
STT-C		STT-C系列傳感器使用標(biāo)準(zhǔn)連接器，方便現(xiàn)場連接及維護(hù)，適用于醫(yī)療儀器、便攜式儀表等溫度的測量使用
STT-H		STT-H系列鉑電阻溫度傳感器采用不銹鋼外殼封裝，內(nèi)部填充導(dǎo)熱材料和密封材料灌封而成，適用于水溫、氣溫、冷凍冷藏等溫度的測量
STT-P		STT-P系列溫度傳感器采用不銹鋼外殼封裝，頭部為尖狀結(jié)構(gòu)，適用于醫(yī)療實(shí)驗(yàn)、食品類需要刺入內(nèi)部溫度測量的場合，需要注意的是針尖部分為非感溫區(qū)，感溫區(qū)在其后5mm的位置，測量溫度時一定要刺入足夠的深度以保證測溫的準(zhǔn)確性
STT-F		STT-F系列溫度傳感器采用金屬外殼封裝，內(nèi)部填充導(dǎo)熱材料和密封材料灌封而成，防水防潮，適用于物體表面等溫度的測量；和被測物體表面的固定可以采用快干膠粘接方式，既方便測溫傳感器的取下，達(dá)到重復(fù)利用的目的，又不損壞被測物體的表面
STT-M		STT-M系列溫度傳感器采用磁性體封裝，對于順磁性金屬表面來講可以方便的吸到表面測溫并且可以方便的取下，適用于大型設(shè)備出廠前關(guān)鍵點(diǎn)溫度的檢測，以及其它需要要頻繁更換溫度檢測點(diǎn)的場合，從而可以提高溫度檢測的效率
STT-A		STT-A系列鉑電阻溫度傳感器帶有彈簧頂緊結(jié)構(gòu)，使測溫面和被測對象緊密接觸，測溫迅速準(zhǔn)確，廣泛應(yīng)用于塑料機(jī)械、模具、軸承等溫度的測量
STT-B		STT-B系列溫度傳感器采用不銹鋼外殼封裝，頭部為防水接線盒，廣泛應(yīng)用于熱能工程，電力，食品，制藥，壓力容器、石油化工等流程工業(yè)以及烘爐，塑料化纖，制冷機(jī)組等大型機(jī)械設(shè)備的溫度測量
STT-W		STT-W系列溫度傳感器采用ABS外殼防護(hù)，側(cè)面帶有通氣孔,測量環(huán)境溫度迅速準(zhǔn)確，適用于氣象、房間等環(huán)境溫度的測量
STT-E		STT-E系列溫度傳感器使用玻纖環(huán)氧板材為基材,采用計(jì)算機(jī)精密數(shù)控加工工藝制作,尺寸精準(zhǔn),業(yè)界領(lǐng)先的封裝技術(shù)和設(shè)備保證了產(chǎn)品的測量精度及使用壽命，此系列產(chǎn)品能夠真實(shí)反映被測物體長度方向上的平均溫度變化，主要用于電機(jī)繞組與繞組之間及繞組和鐵芯鋼片之間的溫度測量。
STT-D		熱量表溫度傳感器采用進(jìn)口薄膜鉑電阻元件精密裝配而成,嚴(yán)格遵照國家及國際行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求，產(chǎn)品耐振動、耐高溫、穩(wěn)定性好、精度高，采用計(jì)算機(jī)全自動檢測配對系統(tǒng)，自動控制，自動讀取數(shù)據(jù)、自動計(jì)算及配對、自動累積編碼、自動打印輸出，全程自動化處理保證每一對溫度傳感器達(dá)到高精度配對要求。

一、鉑電阻測溫元件類型

? 薄膜鉑電阻： 用真空沉積的薄膜技術(shù)把鉑濺射在陶瓷基片上，膜厚在 2μm以內(nèi)，用玻璃燒結(jié)料把Ni （或Pd）引線固定，經(jīng)激光調(diào)阻制成薄膜元件。

? 薄膜鉑電阻系列

型號	外形尺寸 W×L×Hmm	標(biāo)稱阻值 Ro	工作電流 mA	引線尺寸 W×L×Hmm	工作溫度	誤差
CRZ-1632-Ni	1.6×3.2×1.0	100Ω	1	0.25×0.15×12	-40～400℃	1/3DIN A B 2B
CRZ-1632-Pd	1.6×3.2×1.0		1	0.3×0.2×10	-50～500℃
CRZ-2005-Ni	2.0×5.0×1.0		2	0.25×0.15×12	-40～450℃
CRZ-2005-Pd			2	0.3×0.2×10	-50～500℃
CRZ-2005-Ni		500Ω 1000Ω	0.5	0.25×0.15×12	-40～450℃
CRZ-2005-Pd		500Ω 1000Ω	0.5	0.3×0.2×10	-50～500℃

二、性能和參數(shù)

? 鉑電阻元件的溫度系數(shù) TCR

TCR=R 100 -R 0 / R 0 ×100

其中

R 100　在100℃時的電阻值

R 0　　　　在0℃時的電阻值

我們提供符合 IEC751標(biāo)準(zhǔn)的TCR＝0.003851的鉑電阻元件，此外，我們也可為客戶提供其它溫度系數(shù)的電阻元件，如TCR＝0.003750等。

? 鉑電阻元件的溫度－電阻特性

R T ＝R 0 [1+aT-bT 2 -cT 3 (T-100)]

R T 在溫度T時的電阻值

R 0 在零度時的電阻值

a b c 系數(shù)

TCR＝0.003851時的系數(shù)

溫度	a	b	c
T＜0	3.90802×10 -3	5.80195×10 -7	4.27351×10 -12
T≥0	3.90802×10 -3	5.80195×10 -7	0

? 鉑電阻元件的誤差

級別	零度時阻值誤差（ %）	溫度誤差（℃）	溫度系數(shù) TCR誤差（ohm/ohm/℃）
1/3DIN	± 0.04	±（ 0.10+0.0017\|T\|）	0.003851±0.00004
A	± 0.06	±（ 0.15+0.002\|T\|）	0.003851±0.00005
B	± 0.12	±（ 0.30+0.005\|T\|）	0.003851±0.00012
2B	± 0.25	±（ 0.60+0.01\|T\|）	0.003851±0.000024

? 鉑電阻元件的穩(wěn)定性

鉑電阻元件有良好的長期穩(wěn)定性，例如 CRZ-1632在400℃時持續(xù)300小時，0℃時的最大溫度漂移僅為0.02℃。

? 鉑電阻元件的熱響應(yīng)時間

型號	熱響應(yīng)時間 T 0.9 （秒）
	空氣		水
	V＝1.0m/s	V＝3.0m/s	水
CRZ-1632	10	7	0.3
CRZ-2005	16	11	0.3

? 鉑電阻元件的自熱和測試電流

鉑電阻元件的測試電流不應(yīng)超過允許值，例如 CRZ-1632元件裝在沒有任何填充物的ф8mm保護(hù)管內(nèi)，保護(hù)管設(shè)在0 ℃的攪拌水中，當(dāng)測試電流為 1 mA時，溫升為0.05℃；當(dāng)測試電流為5 mA時，溫升為2.2℃。

? 鉑電阻元件的自熱系數(shù)

型　號	自熱系數(shù)（ mW/ ℃ ）
	空氣		靜水
	V＝1.0m/s	靜止	靜水
CRZ-1632-100	2	1	12
CRZ-2005-100	4	2	20
CRZ-2005-1000	4	2	20

? 溫度－阻值表

標(biāo)稱阻值（ Ω ）	100	500	1000
TCR（10 -6 /K）	3851
溫度（℃）	電阻值（ Ω ）
-50	80.31	401.53	803.07
0	100.00	500.00	1000.00
50	119.40	596.98	1193.95
100	138.51	692.50	1385.00
150	157.33	786.57	1573.15
200	175.86	879.20	1758.40
250	194.10	970.37	1940.74
300	212.05	1060.09	2120.19
350	229.72	1148.37	2296.73
400	247.09	1235.19	2470.38
450	264.18	1320.56	2641.12
500	280.98	1404.48	2808.96
550	297.49	1486.95	2973.90
600	313.71	1567.97	3135.94
650	329.64	1647.54	3295.08

三、使用 CRZ薄膜元件的注意事項(xiàng)：

? 直接使用元件或制成溫度傳感器測溫時，避免超過測溫量程，短時間內(nèi)雖不會損壞亦影響產(chǎn)品壽命。

? 用 CRZ元件組裝溫度傳感器時，在使用高溫固化環(huán)氧灌封時，應(yīng)注意其在固化的過程中應(yīng)力的變化過程，否則可能損壞元件（一般為開路）°在使用氧化鎂或氧化鋁充填過程中，應(yīng)避免元件直接接觸尖銳的內(nèi)表面，否則在振動過程中，有可能使元件的瓷片邊緣破損，造成元件開路損壞。

? 在制做溫度傳感器時，必須保證灌封材料的高度絕緣性能，否則會導(dǎo)致產(chǎn)品的電氣絕緣性能降低，并且影響元件的零度測試數(shù)據(jù)，一般會導(dǎo)致 R 0 偏低。

公司介紹

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