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北京天惠IC集成電路檢測儀 在線檢測IC好壞/型號 IC在線檢測儀——深圳金匯能
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IC在線測試儀——可幫助維修師傅快速檢測IC的好壞、IC型號、IC集成電路，也可以幫助IC采購方、工廠生產(chǎn)商的在線測試IC好壞、IC性能等等，需要的話來電咨詢吧。
下面我來介紹下IC測試儀的神奇功能
匯能IC在線測試儀功能
ASA曲線分析測試分立元器件測試
邏輯器件功能測試
邏輯器件性能測試電路板圖像建庫測試
晶體管特性曲線測試
電路板網(wǎng)絡(luò)測試
UDT自定義測試
AFT電路故障追蹤
10. 運算放大器測試
11. 光電耦合器測試
12. 存儲器測試
匯能IC在線測試儀的神奇功能
一、《匯能》測試系統(tǒng)構(gòu)成
完整的匯能故障檢測系統(tǒng)由兩部分組成。
1． 隨測試儀提供（包括在報價中）：
主機HN2600MX/C及附件箱 附件箱中的附件
a．匯能測試儀主機；
b．隨機附件（箱）：多種測試夾、探棒、探針、學(xué)習(xí)（演示）板、離線測試板、排電纜等；
c．專用測試軟件（光盤。安裝在微機上運行），說明書、學(xué)習(xí)資料。
2．自配部分（不包括在報價中）
微機：筆記本、臺式機均可。測試儀通過USB口和微機相連構(gòu)成完整測試系統(tǒng)。
其它：維修通常還需有諸如萬用表、示波器、編程器、拆焊工具、工作臺等?？筛鶕?jù)情況選配。
二、《匯能》測試儀的主要用途
1．電子電路板的故障檢測
無論生產(chǎn)什么產(chǎn)品，只要有一定的規(guī)模，肯定就擁有價值很大的自動化生產(chǎn)、加工、檢測設(shè)備，其的電子控制部分，通常由許多電子電路板組成。
這些電子電路板通常都十分昂貴。一旦發(fā)生故障，無論購買新板，還是送出去修理，都耗資不菲。某些情況下，可能還要等很長時間才能買到或修好，耽誤生產(chǎn)。
何不嘗試自行修理呢？
借助匯能測試儀，即使在沒有詳細(xì)圖紙，不懂工作原理的情況下，修好大部分故障板，并不是十分困難的事情，一般的電子維修工程師即可勝任，直接成本多數(shù)僅是幾元、幾十元，時間通常是幾個小時或一、兩天。
根據(jù)我們近二十年的從業(yè)經(jīng)驗，和對大量用戶的了解，概括如下：
維修成功率：通常不低于70%。過低往往是受到非技術(shù)因素的影響；
人員知識基礎(chǔ)：相當(dāng)于大專的電子電路基礎(chǔ)知識，或者說電子類專業(yè)的大、中專生比較合適。綜合多方原因，更高學(xué)歷最終效果未必更好。
人員經(jīng)驗：最好是有一定維修經(jīng)驗。上手快。
也可以這樣總結(jié)：
同一個維修人員，使用匯能測試儀后，維修范圍、成功率和效率會較前大大提高。
匯能測試儀并不能取代其它測試儀器，比如常用的萬用表、示波器，它提供了新的、更加有效的測試手段。
2．電子元器件的來料篩選
生產(chǎn)一種電子產(chǎn)品，會涉及到多種類型的電子元器件，然而在國內(nèi)元器件市場中，各種各樣的翻新件、以次充好的水貨令人防不勝防。由于中小批量生產(chǎn)的采購量不大，購置多種專門檢測設(shè)備不現(xiàn)實，導(dǎo)致產(chǎn)品質(zhì)量難以保證。
匯能測試儀采用了多種測試方法，能對各種各樣的電子元器件進(jìn)行不同程度的測試。以很好的性價比，解決許多中小規(guī)模元器件采購中的檢測問題。
3．小規(guī)模電子電路板的生產(chǎn)檢驗
許多電子產(chǎn)品基于電子電路板。在小批量、多品種的產(chǎn)品生產(chǎn)中，電路板的故障檢測歷來令人頭痛。使用大型、專用測試設(shè)備成本太高，采用小型、通用儀器測試難度太大。匯能測試儀或許能為解決這種問題提供一個低成本的、通用的、能夠覆蓋大部分故障的解決方案。
如需進(jìn)一步了解，請索閱《匯能電路在線維修測試儀的應(yīng)用》
三、匯能測試儀主要指標(biāo)
1．?dāng)?shù)字部分：
a． 驅(qū)動電平：
HN2600系列：符合全邏輯電平（±12V內(nèi)）數(shù)字器件測試要求；
HN1600系列：符合5V邏輯電平（TTL、5VCMOS）數(shù)字器件測試要求；
b． 最大驅(qū)動電流：
HN1600系列：>200mA；
HN2600系列：>300mA；
c． 閾值電平：雙閾值，±12V內(nèi)用戶可選，步距0.1V；
d． 測試速率： DX及以下：1/5/20/45Ktv/秒；
MX：1/5/20/45/100/160/260/610Ktv/秒（千條測試向量/每秒）；
2．模擬部分：
a． 波形：正弦/三角/鋸齒；
b． 頻率：DX及以下：（1/5/48/390/720/1K）Hz；
MX：1/5/48/390/720/1K/1.5K/2.6KHz；
c． 幅度：±0.3V～±28V。步距：幅值/128；
d． 輸出阻抗：0.1K/1K/10K/100K；
e． 最大輸出電流：150mA；
f． 網(wǎng)絡(luò)測試連接識別閾值：25Ω±5Ω；
注：本產(chǎn)品通過軍方例行試驗，是列裝產(chǎn)品。
四、主要測試功能及特點
1．ASA（Analog Signature Analysis）測試
測試原理：從好的電路板（或獨立的器件）上，提取并記錄電路節(jié)點（或器件管腳）的ASA曲線，再提取被測電路板（或器件）的曲線，把相應(yīng)的曲線顯示在一起，由使用者根據(jù)曲線差異判斷故障。
離線使用（測試脫離電路板的器件）時，ASA測試主要用于檢測未知（查不到型號、加密、腳數(shù)多或功能過于復(fù)雜）器件的好壞；
在線使用（檢測電路板故障）時，ASA測試可將故障定位到電路節(jié)點上。
參見下圖ASA的索引界面：
參見下圖ASA學(xué)習(xí)曲線界面：
主要特點：
a. 支持圖像、文本索引界面
b. 保存測試現(xiàn)場
c. 自動選擇高靈敏度曲線
d. 自動識別異常曲線
e. 按器件、管腳曲線設(shè)置測試參數(shù)
f. 按器件、管腳曲線設(shè)置比較允差
g. 按器件、管腳曲線建立測試導(dǎo)航信息。參見下圖為某電路板上代號為U的器件的第六腳建立的導(dǎo)航信息：
h. 自動生成用于測試統(tǒng)計的Excel報表
i. 測試指定管腳曲線
j. 曲線轉(zhuǎn)換為文本文件
k. 計算平均曲線
2． 元器件功能、性能測試
功能測試：功能測試檢查器件能否完成規(guī)定的電路過程。例如，對于功能測試而言，7400、74LS00、74ACT00是一樣的。功能測試往往能夠在線進(jìn)行——直接測試電路板上的器件的功能好壞，多用于電路板故障檢測；也能離線進(jìn)行——測試脫離電路板的器件的功能好壞。
性能測試：性能測試檢測器件完成規(guī)定電路過程的質(zhì)量。性能測試比功能測試更嚴(yán)格。對于性能測試而言，7400、74LS00和74ACT00是不同的——負(fù)載能力、電平高低、功耗等等都不相同。性能測試就是要測試出這些差別。性能測試通過對器件參數(shù)的測試實現(xiàn)。也叫參數(shù)測試。
性能測試只能離線進(jìn)行。從測試的角度來看，所謂的“翻新件”、“水貨”、“劣質(zhì)件”，主要表現(xiàn)為器件功能正常，但性能不達(dá)標(biāo)。這也是有些器件通過了功能測試，上機不能用的主要原因。所以性能測試用于生產(chǎn)中的器件來料篩選，維修中器件上板前檢測，其效果比功能測試好很多。
描述一個器件性能的參數(shù)有很多，嚴(yán)格的講，只有所有參數(shù)都達(dá)標(biāo)，才保證器件是好的，限于測試成本，測試全部參數(shù)是不可能的，一般根據(jù)故障覆蓋要求，選擇測試一部分參數(shù)。
從測試儀器功能來看，能做性能測試的，都能夠進(jìn)行功能測試，反過來，由于性能測試需要額外的硬、軟件，所以只能做功能測試的儀器，通常都不能進(jìn)行性能測試。
1）數(shù)字邏輯器件性能和功能測試
測試原理：
在輸入施加測試碼，把器件的實際邏輯輸出和理論輸出進(jìn)行比較，一致說明器件功能完好，不一致說明有功能性故障。在線測試時，還要使用“后驅(qū)動”和“自適應(yīng)”技術(shù)屏蔽外電路對測試的干擾；性能測試是在功能測試成功的基礎(chǔ)上，檢測主要直流參數(shù)是否符合要求。
器件的測試代碼和理論輸出按型號存放在微機中，叫做測試器件庫，供測試時調(diào)用。匯能的器件庫中共有器件一萬多個（74、4000/45、26、82系列，俄羅斯、西門子等等），并支持部分PLCC封裝的邏輯器件，支持用戶自行擴充。
a）在線功能測試：
下面是輸入7474后的器件索引界面：
下面是對7474的測試結(jié)果界面：
主要特點：
a．非法電平檢查
當(dāng)被測器件管腳上有超過電壓區(qū)間20%的電平值時，為安全起見，提示后終止測試；
b．總線競爭識別提示
三態(tài)器件允許將多個器件輸出并接在一起，構(gòu)成總線結(jié)構(gòu)?？偩€競爭會導(dǎo)致好器件測試失敗。如果缺乏此項功能，當(dāng)測試失敗時，無法區(qū)別是器件故障，還是由于存在“總線競爭”導(dǎo)致的誤測。
本功能可在測試前自動偵測三態(tài)器件是否處于總線競爭狀態(tài)，給出警告提示。
c．八個總線競爭屏蔽信號（BDS信號）
發(fā)現(xiàn)有總線競爭后，要用BDS信號屏蔽競爭總線的器件，才能正確測試。每個信號可分別定義“高”或“低”有效，以滿足測試不同器件要求。
e．提取并顯示器件管腳的模擬在線特征
(1) 器件各管腳對地的正反向電阻；
(2) 器件各管腳的測前電平值；
(3) 器件的自聯(lián)接。
f．提取并顯示器件管腳的數(shù)字在線特征
(1) 浮動態(tài)：多數(shù)情況為輸入腳懸空
(2) 翻轉(zhuǎn)態(tài)：該管腳上有其它數(shù)字信號；
(3) 信號態(tài)：該管腳以及與之相連的其它管腳中至少有一個為輸出；
(4) 鎖定態(tài)：管腳狀態(tài)被外電路鎖定（恒高、不可高、恒低、不可低）；
(5) 電源態(tài)：管腳接電源；
(6) 地 態(tài)：管腳接地。
b）離線性能測試：
對74LS373的參數(shù)設(shè)置界面：
設(shè)置輸出 設(shè)置輸入
測試結(jié)果部分顯示：
可測試參數(shù)：
a．Voh：輸出高電平
將輸出驅(qū)動到高后，從該輸出拉出指定大小的電流時，輸出電壓應(yīng)不低于此電壓值；
b．Vol：輸出低電平。將輸出驅(qū)動到低后，向該輸出灌入指定大小的電流時，輸出電壓應(yīng)不高于此電壓值；
c．Iih：輸入高漏流。在指定輸入加指定電壓（其它輸入加邏輯低），漏入該輸入的電流應(yīng)不大于此電流值；
d．Iil：輸入低漏流。在指定輸入加指定電壓（其它輸入加邏輯高），漏出該輸入的電流應(yīng)不大于此電流值；
e．Iozh：輸出高阻態(tài)高漏流
將三態(tài)器件輸出驅(qū)動到高阻態(tài)，在該輸出加指定電壓，漏入該輸出的電流應(yīng)不大于此電流值；
f．Iozl：輸出高阻態(tài)低漏流
對三態(tài)器件，將該輸出驅(qū)動到高阻態(tài)，在該輸出加指定邏輯低電壓，漏出該輸出的電流應(yīng)不大于此電流值；
g．Ioh：集電極開路輸出高漏流
將集電極輸出器件驅(qū)動輸出高，在該輸出加指定電壓，漏入該輸出的電流應(yīng)不大于此電流值。
2）存儲器性能和功能測試
測試原理：
只讀存儲器是將好器件中的內(nèi)容讀出來，存放在微機中，在和被測器件中的內(nèi)容比較，一致說明器件功能完好，不一致說明有功能性故障；讀寫存儲器是按照一定的算法，向器件中寫入數(shù)據(jù)，然后再讀出來進(jìn)行比較，根據(jù)比較結(jié)果確定是否有功能性故障；性能測試是在功能測試成功的基礎(chǔ)上，檢測主要直流參數(shù)是否符合要求。
存儲器件庫中共有器件約4千余種（SRAM、DRAM、PROM、EPROM、EEPROM），支持用戶自行擴充。
目前尚不能測試串型存儲器件和FLASH器件。
主要特點：
支持對電池支撐的存儲器件的讀寫。
其它：
存儲器測試與邏輯器件測試十分類似。檢測的參數(shù)也相同。請參見上一節(jié)“數(shù)字邏輯器件性能和功能測試”。
3）光電耦合器件性能和功能測試
測試原理：
在輸入施加一個電流脈沖，檢查輸出隨輸入的變化，得到并顯示轉(zhuǎn)換曲線。性能測試是在得到轉(zhuǎn)換曲線的前提下，檢查幾個主要直流參數(shù)是否符合要求。
功能測試：
功能測試可以在線進(jìn)行，測試并顯示轉(zhuǎn)換曲線后，從曲線上判斷器件功能好壞；也允許把好板上的器件的轉(zhuǎn)換曲線學(xué)習(xí)、存儲下來，再與故障板上測到的相應(yīng)器件的轉(zhuǎn)換曲線相比較，根據(jù)兩者差異大小判斷是否有功能性故障。由此可排除某些外電路對測試的影響。
性能測試：
只能離線進(jìn)行。性能測試是在功能測試成功后，對幾個直流參數(shù)進(jìn)行測試，給出明確測試結(jié)論。
光耦器件庫中共有器件500多個常用純光耦器件，支持用戶自行擴充。
目前在測試含有邏輯控制電路的光耦時，還需要人工施加控制電平。
下面是對PC817的測試結(jié)果：
可測試的參數(shù)：
a．CTR： 輸入-輸出電流傳輸比；
b．Uf： 二極管最大允許輸入電壓；
c．Uces：三極管最小輸出飽和電壓；
d．Ice0：三極管輸出漏電流。
以上參數(shù)均在光耦器件手冊中規(guī)定的條件下，按照手冊中給出的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試。
4）運算放大器功能測試
測試原理：
運放正常工作最重要的特征是：兩輸入腳之間呈“虛通”狀態(tài)。將任何形式的運放電路等效成一個電壓跟隨器，在正輸入端施加一個模擬信號（正弦波），如果能在負(fù)輸入端得到一個完全相同的信號，說明“虛通”特征存在，可認(rèn)為被測運放沒有功能性故障；如果兩波形有差別，說明“虛通”特征已被破壞，認(rèn)為有故障。該方法獲國家發(fā)明專利。
這種方法只適用于電壓型運放，不適用于其它類型（如電流型、跨導(dǎo)型等）的運放；對于正輸入端沒有平衡電阻，簡單接地的電路結(jié)構(gòu)、兩輸入端短路的故障，在預(yù)處理程序處理。
在線測試：
顯示兩輸入腳上的波形，并給出波形差異的百分比，由此判斷有無故障。
離線測試：
除了直接使用在線方式外，也允許把好板上的器件曲線學(xué)習(xí)、存儲下來，再與故障板上測到的相應(yīng)器件的曲線相比較，給出差異的百分比。根據(jù)兩者差異大小判斷是否有功能性故障。由此可排除某些外電路對測試的影響。
運放器件庫中共有器件2000多個。支持用戶自行擴充。
下面是對LM324的測試結(jié)果界面。圖中采用了坐標(biāo)錯位顯示：
5）分立元件測試
a）電容測試
能夠定量測試電容的容量、串聯(lián)等效電阻ESR和并聯(lián)等效電阻EPR。
下面是對一個標(biāo)稱值為2.2微法電容的ESR和容量C的測試結(jié)果：
主要特點：
a．支持較大電容（如10微法以上）的ESR的在線測試。提高維修電路板的效率；
b．允許指定測試EPR的電壓；
c．大容量（一萬微法以上）電容的測試
d．根據(jù)電容曲線調(diào)整測試參數(shù)得到更好測試結(jié)果
b）電感測試
測試電感的感抗和等效串聯(lián)電阻ESR?？蓽y試大于1毫亨的電感。下面是對一個10毫亨電感的測試結(jié)果。
c）電阻測試
能夠定量測試電阻的阻值。下面是一個對1K電阻的在線測試結(jié)果：
主要特點：
a．根據(jù)電阻曲線判斷在線測試結(jié)果的準(zhǔn)確性；
b．測試電壓在0.3V到15V內(nèi)可用戶指定；
c．測試低至50毫歐的電阻。可用于定位電路板上的短路點。
d）二極管測試
測出指定電壓范圍內(nèi)的二極管曲線，由此檢查二極管的反向漏流、轉(zhuǎn)折電壓、正向?qū)娮枋欠裾?。下面的二極管曲線中，導(dǎo)通拐點在0.65V，反向擊穿電壓在9V左右。
e）三端器件測試
閘流管（可控硅）、晶體管（雙極型、MOS型）、三端穩(wěn)壓器、繼電器等都是三端元件。本功能測試三端元件在觸發(fā)信號作用下轉(zhuǎn)換工作（截止、導(dǎo)通）狀態(tài)。下面是對一個閘流管的測試結(jié)果：
電壓-電流曲線 橫線反映截止特性、豎線反映導(dǎo)通特性、豎線與縱軸的間距就是導(dǎo)通電壓。微調(diào)脈沖幅度可得到它的最小觸發(fā)脈沖幅度。 | 時間-電壓曲線 直線的水平程度反映導(dǎo)通阻抗的大小，與橫軸的間距反映導(dǎo)通電壓。改變脈沖寬度可以觀察到水平線段起點移動（導(dǎo)通角變化）。 |
主要特點：
a．八種觸發(fā)方式如下所示；
b．觸發(fā)脈沖的幅度、寬度可調(diào)，由此可準(zhǔn)確測出被測元件所需要的觸發(fā)條件；
c．可測試電壓范圍內(nèi)的工作曲線，由此可判斷在指定電壓范圍內(nèi)，被測元件的截止漏流、導(dǎo)通電阻以及導(dǎo)通電壓是否符合要求；
3． UDT（混合電路/器件自定義）測試
如果希望測試某些器件，而這些器件不屬于可測試類型，比如模數(shù)-數(shù)模轉(zhuǎn)換器；有的勉強歸于可測試類型，但測試不能很好反映器件的工作過程，比如模擬比較器、模擬開關(guān)等，可在UDT中定義測試。
一個電路板可看成一個器件，但這個器件多數(shù)情況無法歸入某個可測試類型，可用UDT定義對整個電路板，或者板上的局部電路的測試。
對上述兩種情況，往往是測試者知道應(yīng)該加什么測試信號進(jìn)行測試，但苦于沒有方便的手段來產(chǎn)生測試信號。UDT就是專為解決這些問題的。
測試原理：
在UDT的支持下，匯能測試儀提供40個測試通道?？梢匀恐付閿?shù)字的；或者其中一個、最多兩個指定為模擬的（1600DX以上型號），其它指定為數(shù)字的。
在UDT的支持下，可在微機屏幕上“畫”出輸出信號的具體波形，指定給設(shè)置為輸出的通道；在測試時，測試儀就會把這個波形的信號從該通道輸出；從指定為輸入的通道把被測試對象的響應(yīng)信號讀回來，并顯示在屏幕上。通過比較正確響應(yīng)和故障電路板的響應(yīng)信號判斷故障。正確響應(yīng)又叫做標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)，通常是從好電路板上學(xué)習(xí)得到的。
打個比方，在UDT環(huán)境中，測試儀就象一臺數(shù)控加工中心，編不同的程序（定義不同測試信號），就能加工出不同的零件（測試不同的對象）。
實際使用中通常由有經(jīng)驗的、了解被測試對象工作原理的工程師定義測試信號、故障導(dǎo)航信息（測試注意事項、通道連接及測試異常時的故障分析等），以器件或電路板為文件單位，存放在微機中，供普通技術(shù)人員用來檢測故障。
測試文件：
為了簡化測試信號設(shè)計，提高故障定位精度，可以分多次完成對一個器件/電路的測試——每次只檢查它的部分功能。比如，對一個數(shù)字計數(shù)器件，一次測試它的置數(shù)功能，另一次測試它的計數(shù)功能；對一個模數(shù)轉(zhuǎn)換器，一次測試它的電壓工作模式，另一次測試它的電流工作模式等等。一次測試所需要的信息組合，叫做一個子測試。
子測試由名字、對器件或電路的激勵信號、標(biāo)準(zhǔn)（正確）響應(yīng)信號、故障導(dǎo)航信息組成。
一個電路或器件的所有子測試存放在一個文件中，稱為該電路或器件的UDT測試文件。
子測試執(zhí)行方式：
a．執(zhí)行指定子測試；
從頭至尾執(zhí)行指定子測試，執(zhí)行完畢后關(guān)斷所有測試通道，顯示此次執(zhí)行的實際輸出、輸入信號以及庫中的標(biāo)準(zhǔn)輸出、輸入信號，供使用者分析是否存在故障；
b．執(zhí)行指定子測試到指定節(jié)拍
從頭開始執(zhí)行指定子測試，停止在指定節(jié)拍。注意，此時并不關(guān)閉測試通道，所有激勵信號依然保持。通過這個功能，可以把電路或器件驅(qū)動到所需狀態(tài)，此時可用其它測試儀器進(jìn)行觀察；
c．循環(huán)執(zhí)行指定子測試
反復(fù)執(zhí)行指定子測試直至被中斷；
d．執(zhí)行全部子測試
執(zhí)行當(dāng)前測試文件中的全部子測試，并給出哪些子測試執(zhí)行正常，那些異常的提示；
e．器件輸出波形替換
用當(dāng)前測試到的器件輸出波形，替換已經(jīng)存在的器件輸出，作為下次測試的比較標(biāo)準(zhǔn)。
例：用UDT測試數(shù)模轉(zhuǎn)換器7524
參見下面的測試結(jié)果：
(1) 狀態(tài)I表示測試儀輸出施加到器件輸入的信號；
(2) 對數(shù)字信號（信號3到12），測試儀在按要求輸出時（每個信號第一行所表示），還將實際輸出讀回（第三行）。如果兩者不一致，說明該信號沒有正確施加。
(3) 模擬信號（信號2）顯示兩條。第一條是標(biāo)準(zhǔn)，第二條是實測。如果標(biāo)準(zhǔn)和實測比較超差，提示“測試失敗”。可結(jié)合失敗波形和相關(guān)導(dǎo)航信息，進(jìn)一步分析判斷，或確定器件有故障。
4．AFT（模擬電路/器件自定義）測試
AFT和UDT面向解決同樣的問題。但當(dāng)只使用模擬信號時，使用UDT不夠方便?？墒褂肁FT。下面是AFT的測試主界面：
下面是對幾種典型模擬電路的測試結(jié)果：
對一個微分電路的測試： 下面為輸入激勵波形 上面為電路的輸出波形 | |
對一個積分電路的測試： 方波為輸入激勵波形 鋸齒波為電路的輸出波形 | |
對一個2:1反相放大器的測試： 上面為電路的輸出波形 下面為輸入激勵波形 | |
對一個1:1.5同相放大器的測試： 較大幅度為電路的輸出波形 較小幅度為輸入激勵波形 |
5．電路板圖像建庫測試
在電路板的圖像上（數(shù)碼照片）定義ASA和邏輯器件功能測試。鼠標(biāo)雙擊圖像上的器件可直接調(diào)用定義好的測試。提供友好的人機界面。
對數(shù)字邏輯器件，一次測試可自動完成功能測試和ASA曲線測試；對其它器件，完成ASA曲線測試；
參見下面電路板圖像建庫測試主界面。
在已定義器件矩形框內(nèi)，使用不同的顏色標(biāo)識器件的不同狀態(tài)。比如綠色表示通過測試；紅色表示測試失??；藍(lán)色表示未定義測試等等。
在已定義的矩形框內(nèi)雙擊，就能調(diào)用已定義的測試，然后依據(jù)測試結(jié)果，在矩形內(nèi)填上相應(yīng)顏色。
6．電路板的器件溫度測試
測試方法：
溫度學(xué)習(xí)：
首先將電路板的圖像（數(shù)碼照片）輸入微機，再給一塊好的電路板加工作電壓至熱平衡。然后通過與匯能測試儀配合工作的紅外測溫儀，一個一個器件的測出其溫度，顯示在電路板圖像的相應(yīng)器件上，最后作為溫度學(xué)習(xí)文件存入微機?？蓞⒁娚蠄D。
溫度比較：
將被測電路板加工作電壓至熱平衡，調(diào)出該板的學(xué)習(xí)文件，屏幕上顯示出該電路圖像，并且在每個器件上標(biāo)有學(xué)習(xí)溫度；鼠標(biāo)雙擊某器件的矩形內(nèi)，然后用與匯能測試儀配合工作的紅外測溫儀，測出該器件此時的溫度，顯示在學(xué)習(xí)溫度下面，使用者可根據(jù)溫度差異大小來判斷故障。
7．晶體管離線輸出特性曲線測試
相當(dāng)于一個小功率晶體管圖示儀?？蓽y出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)特征曲線。
主要特點：
支持雙管同時測試，方便晶體管配對。
8．電路板網(wǎng)絡(luò)測試
電路板網(wǎng)絡(luò)指電路板上元器件之間的連接關(guān)系。本功能用于解決和電路板網(wǎng)絡(luò)相關(guān)的問題。本功能在完善之中。
9.其它主要輔助測試功能
a. 后臺測試工作記錄
b. 元器件PDF資料管理
c. 用戶身份管理
d. 用戶數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)入、轉(zhuǎn)出
五、命名方式及選型要點
1.型號命名規(guī)則：
HN S 6 00 Y / Z
S=2：全邏輯電平數(shù)字通道
S=1：5V邏輯電平數(shù)字通道
Y=MX或DX：表示測試頻率差異
Z=B：80個雙屬性模擬通道
Z=C：160個雙屬性模擬通道
Y/Z= /4840：40個單屬性模擬通道
Y/Z= /4880：80個單屬性模擬通道