|
| 革新性的高清電容檢測！ |
| |
| 焊點(diǎn)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)檢測的最佳設(shè)備！適用于電子元件、芯片、小型元器件等 |
| |
| | | | 業(yè)界首創(chuàng) —— 高精度、高清晰成像的電容檢測 | 細(xì)節(jié)表現(xiàn)優(yōu)秀 —— 分辨精度達(dá)到227Lp/cm | 高像元尺寸 —— 輸出數(shù)字圖像達(dá)到1628×1228px | 過渡更加完美 —— 圖像灰度等級達(dá)到4600級 | 高倍放大圖像 —— 檢測圖像可放大30-120倍 |
|
| |
| 應(yīng)用范圍 |
|
| BJI-G電容檢測主要應(yīng)用于各類工業(yè)、電子元件、元器件等制品內(nèi)部 結(jié)構(gòu)及焊點(diǎn)的檢測(虛焊、漏焊、錯焊檢測) |
| 電容檢測可檢測：芯片、電路板、元器件、冬蟲夏草、電熱絲、電熱管、保險管、IC卡、磁卡、微電路、電纜線、電源插頭、PCB、BGA、精密元器件、保險管、保險絲、電容、小型雷管等 |
| |
| 特性 |
| | | | 傳統(tǒng)設(shè)備對芯片的檢測效果 | BJI-G 對芯片的檢測效果 |
|
|
| |
| 檢測效果 |
| | | | | | | | | | | | | | BJI-G X射線機(jī)(X光機(jī))還可應(yīng)用于多種元器件、微小的工業(yè)部件和相關(guān)制品無損檢測使用。閣下可以通過聯(lián)絡(luò)我們，了解更多本機(jī)可檢測的制品。 |
|
| |
| 規(guī)格參數(shù) |
|
| |
| 全套組成 |
|
| |
| 恒勝創(chuàng)新電容檢測圖像處理采集系統(tǒng) |
| BJI-G配備了專為其研發(fā)的《恒勝創(chuàng)新電容檢測圖像處理采集系統(tǒng)》，該系統(tǒng)集X射線機(jī)圖像采集、存儲、圖像處理等豐富多元化的功能于一身，通過PC兼容計算機(jī)進(jìn)行操作和運(yùn)行。 |
| | | | 菜單欄：系統(tǒng)功能與組件區(qū)。 | | | | 工具欄：提供圖像采集、打開存儲等功能。 | | | | 圖像處理快捷按鈕：可快速處理圖像。 | | | | 圖像采集工作區(qū)：圖像采集與處理展現(xiàn)區(qū)。 |
|
|
| 功能展示 |
| 《恒勝創(chuàng)新工業(yè)檢測X射線機(jī)圖像處理采集系統(tǒng)》對被檢測圖進(jìn)行圖像采集后，可進(jìn)行豐富的專業(yè)化處理。如對圖像進(jìn)行垂直或水平翻轉(zhuǎn)、放大縮小圖像、旋轉(zhuǎn)圖像、反色對比，可通過調(diào)節(jié)圖像對比度獲取最佳圖像效果，還可以對檢測元件進(jìn)行自由測量、保存圖像及打印檢測圖像等功能。 |
| |
| | | | | | 局部放大 | | 可對圖像進(jìn)行快速局部放大，方便查看細(xì)節(jié)。 |
| | | | | | | 測量工具 | | 對檢測圖像的任意位置進(jìn)行實(shí)際長度測量。 |
| | | | | | | 反色對比 | | 反色對比可使檢測圖像的細(xì)節(jié)更加突出，便于操作人員觀測。 |
|
|
|
| 運(yùn)行環(huán)境 |
| |
機(jī)型：IBM構(gòu)架兼容計算機(jī)或筆記型計算機(jī)
CPU：1GHz以上
內(nèi)存：512MB及以上
硬盤空間：65MB以上
顯卡內(nèi)存：128MB及以上
操作系統(tǒng)：Microsoft Windows 2000/Me/XP/Windows7 | | |
|
| |
| 本設(shè)備支持的售后服務(wù)與增值服務(wù) |
| |
|
| |
| 聯(lián)絡(luò)我們 獲取更多資訊或購買設(shè)備 |
| |
| |
|