詳細(xì)信息
pcb尺寸：63*71 mm 重量：48g 左右
LCR-T4 圖形化 多功能測試儀 電阻+電容+二極管+可控硅+電感+三極管+mos管
液晶為12864液晶顯示器，帶有背光，背光顏色一般為黃綠色。
供電為9v 層疊電池。如果長時間供電，可以用2個鋰電池組成8.4v的電池組供電。
功能
*新增開機(jī)電壓檢測功能
*自動檢測NPN和PNP晶體管，N溝道和P溝道MOSFET，二極管（包括雙二極管）、晶閘管、三極管、電阻器和電容器等元件，
*自動測試出元件的引腳，并顯示在液晶上
*可以檢測晶體管、MOSFET保護(hù)二極管等的放大系數(shù)和基數(shù)的確定發(fā)射極晶體管的正向偏置電壓
*測量柵極閾值電壓和柵電容的MOSFET
*顯示器使用12864 lcd 液晶（128 * 64個字符）
*較高的測試速度，有效期組件測試：在2秒（除在較大的電容器，大電容的測量還需要較長時間，測量的時間為1分鐘是正常的）
*一鍵操作，開機(jī)測試，一鍵搞定。
*功率消耗關(guān)閉模式：小于20 nA的
*自動關(guān)機(jī)功能，可以避免不必要的浪費(fèi)，節(jié)約電池能量，提高續(xù)航時間。
*******以下功能針對M8 版和M168 高級版 版本有所不同****請大家根據(jù)自己的需求選擇*********
1。采用ATmega8，ATmega168或ATmega328微控制器。
2。2x16字符液晶顯示器顯示結(jié)果。
3。一鍵操作，自動關(guān)閉電源。
4。關(guān)斷電流只有20nA，支持電池操作。
5。低成本的版本不用晶振，支持自動關(guān)閉電源。1.05k版本軟件的ATmega168或ATmega328在沒有測量時用睡眠方式來降低電源消耗。
6。自動檢測PNP和NPN型雙極晶體管，N、P溝道MOSFET，JFET，二極管，雙二極管，晶閘管可控硅。
7。自動檢測引腳布局。
8。測量雙極型晶體管的電流放大系數(shù)和發(fā)射結(jié)的閾值電壓。
9。達(dá)林頓晶體管可以通過高閾值電壓和高電流放大系數(shù)識別。
10。對雙極型晶體管，MOSFET的保護(hù)二極管的檢測。
11。測量MOSFET的閾值電壓和柵極電容值。
12。支持兩個電阻的測量和符號顯示，最高四位數(shù)字和單位顯示。顯示的電阻符號兩端是連接的測試儀探針編號（1-3）。所以電位器也可以測量。如果電位器調(diào)整到它的一端，測試儀不能分辨中間和兩端的引腳。
13。電阻測量的分辨率是0.1歐姆，最高測量值50M歐姆。
14?？梢员粰z測和測量一個電容器。最高四位數(shù)字和單位顯示。數(shù)值可以是從25pf（8MHz時鐘，50pF@ 1MHz的時鐘）到100mF。分辨率可達(dá)1 pF（@ 8MHz時鐘）。
15。可以對于2UF數(shù)值以上的電容器的等效串聯(lián)電阻（ESR）電容值測量。分辨率為0.01歐姆和顯示兩位數(shù)數(shù)值。此功能要求至少16K閃存ATMEGA（ATmega168或ATmega328）。
16?？梢詫蓚€二極管顯示正確方向的符號。此外，顯示正向壓降。
17。LED檢測為二極管，正向壓降比正常高很多。雙發(fā)光二極管檢測為雙二極管。
18。齊納二極管可以被檢測到，如果反向擊穿電壓低于4.5V。這將顯示為兩個二極管，只能通過電壓確定。探頭圍繞二極管的符號是相同的，在這種情況下，你可以通過700mV附近的閾值電壓識別二極管真正的陽極！
19。****這條每年明白，不翻了****
如果超過3個二極管類零件檢測，建立二極管數(shù)目顯示另外失敗的消息。這只會發(fā)生，如果二極管連接到所有的三探針和至少有一個是型二極管。在這種情況下，你應(yīng)該只連接兩個探針和啟動測量再次，一個接一個。
20。測量單個二極管反向的的電容值。雙極型晶體管也還可以測量，如果你連接基極與集電極或發(fā)射極。
21。只需要一次測量找出全橋的連接。
22。數(shù)值低于25pf電容器通常檢測不到，但可以與一個二極管并聯(lián)或至少25pf電容器并聯(lián)。在這種情況下，你必須減去并聯(lián)電容值的部分。
23。電阻低于2100歐姆會測量電感，如果你的ATMEGA至少具有16K閃存。范圍將從0:01mH超過20H，但精度不好。測量結(jié)果只顯示單一元件連接。
24。測試的時間是大約兩秒鐘，只有電容和電感測量會需要較長的時間。
25。軟件可以設(shè)定電源自動關(guān)閉前的測量次數(shù)。
26。內(nèi)建自檢功能與可選的50Hz信號檢查的時鐘頻率準(zhǔn)確性和等待調(diào)用（ATmega168和ATmega328）。
27。可選設(shè)備校準(zhǔn)端口輸出的內(nèi)阻和零失調(diào)自檢能力的測量（ATmega168和ATmega328）。需要一個100nF到20uF電容連接到引腳1和引腳3之間補(bǔ)償模擬比較器的失調(diào)電壓。這可以減少40uF以上電容器的測量誤差。用相同的電容器內(nèi)部校正電壓參考電壓被發(fā)現(xiàn)調(diào)整內(nèi)部參考測量ADC的增益。
如果測試電流超過維持電流，可控硅和雙向可控硅可以被檢測到。但是一些半導(dǎo)體可控硅和雙向可控硅比該測試儀能提供的電流更高的觸發(fā)電流?？商峁┑臏y試電流僅約6mA！注意，所有功能僅用于有更多的程序存儲器的單片機(jī)如ATmega168。