詳細信息
YAMAICHI（山一電機） IC TEST SOCKETS - NP291 Series (Open Top) Fine Ball Grid Array (FBGA, 0.75mm Pitch)
型號: NP291-04808-*AC-13177
支持老化測試(Burn-In Test ) 和功能測試( Fuction Test )
本公司銷售均為合法正品，可以提供售前售后技術支持，IC測試座定制， 現貨庫存查詢，快速交貨；
We provide technique support ,IC test socket customization,Inventory sell and quick delivery.