詳細信息
日本日置HIOKI3504-40電容測試儀的使用方法：
采用橋式電路結(jié)構(gòu)，標準電容器和被試電容器作為橋式電路的兩臂。當(dāng)進行電容器電容值測量時，測試電壓同時施加在標準電容器和被試電容器上，處理器通過傳感器同采集流過兩者的電流信號并進行處理后得也被試電容器的電容值。由于采用標準電容器、被試電容器同步采樣技術(shù)，可不受電源電壓波動的影響；加之測量過程是全自動進行的，避免了手動操作引起的誤差。
日本日置HIOKI3504-40電容測試儀特點：
C、D 2項目測試
能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容
靜電容量:最多可分成14類，能簡單地根據(jù)測量值進行分類
控制檢測功能
測試源頻率: 120Hz, 1kHz
高速測量: 2ms
RS-232C, GP-IB
日本日置HIOKI3504-40電容測試儀特性:
封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
能根據(jù)C 和D（損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
對應(yīng)測試線，比側(cè)儀功能/觸發(fā)輸出功能
3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試
查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。
按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
日本日置HIOKI3504-40電容測試儀技術(shù)數(shù)據(jù)：
測量參數(shù) | Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ） |
測量范圍 | C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 |
基本確度 | （代表值）C:±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各系數(shù) |
測量頻率 | 120Hz, 1kHz |
測量信號電平 | 恒定電壓模式: 100mV (僅限3504-60) 500 mV, 1V 測量范圍: CV 100mV:～170μF量程(測量頻率1kHz), ～1.45mF 量程(測量頻率120Hz) CV 500mV: ～170μF量程(測量頻率1kHz), ～1.45mF 量程(測量頻率120Hz) CV 1V: ～70μF量程(測量頻率1kHz), ～700μF 量程(測量頻率120Hz) |
輸出電阻 | 5Ω（開路端子電壓模式,上述測量范圍以外） |
顯示 | 發(fā)光二級管（6行表示，滿量程計算器根據(jù)量程而定） |
測量時間 | 典型值: 2.0 ms（1 kHz, FAST） ※測量時間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同 |
機能 | 4端子控制檢測功能（僅限3504-60），BIN測量（除去3504-40），觸發(fā)同時輸出，儲存測量條件，比較測量值的場強，平均值功能，Low-C抑制功能，鳴叫功能，控制用輸出入（EXT.I/O），RS-232C界面（標準裝備），GP-IB接口（3504-40除外） |
電源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA |
體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
附件 | 電源線×1，預(yù)備電源保險絲×1 |
庚圣自動化科技，測試測量領(lǐng)域領(lǐng)導(dǎo)者！